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  • 扫描电子显微镜

    扫描电子显微镜

    型号:日本JSM-7610F
    功能:JSM-7610F是一款半浸没式(semi-in-lens)高分辨率扫描电镜,照明系统采用High Power Optics(高性能电子光学系统),可获取物相高分辨率图像。配合Gentle Beam (GB模式即柔和光束),以能量低达数百电子伏的入射电子束观察样品的浅表面。配备X射线能谱分析(EDS)可对材料微区成分元素种类与含量分析。
    技术参数:
    分辨率:1.0nm(15kV)/1.3nm(1kV)
    加速电压:0.1KV-30kV
    放大倍数:25-100万倍
    样品室尺寸:最大200mm直径样品
    束流强度:1pA到200nA

  • 原子力显微镜

    原子力显微镜

    型号:德国Multimode 8
    功能:AFM可以在真空、 大气甚至液下操作,既可以检测导体、半导体表面,也可以检测绝缘体表面,以其分辨率和功能,原子级的高分辨率、实时成像、可以直接研究表面局域性质,被广泛应用于物理、化学、材料、电子以及生命科学等各个领域,迅速发展成研究纳米科学的重要工具。
    技术参数:
    横向(X-Y)扫描范围125μm×125μm,竖直(Z)扫描范围5μm
    多种扫图模式:
    空气中轻敲模式/接触模式
    液体中轻敲模式/力调制
    空气中力调制/电场模式

  • 激光导热仪

    激光导热仪

    型号:LFA-467

    功能:德国耐驰的闪光法导热系数测试仪,可以精确测试20℃ ~ 500℃内样品的热扩散系数,得到样品横向及纵向热扩散系数及导热系数的结果。该设备具有极高的采样频率,特别适合于薄膜样品等高导热材料的测试,并配有多种测试支架,满足不同样品的导热测试需求。

    技术参数:

    温度范围:20℃~500℃

    激光源  :可调能量氙灯

    测试范围:0.1~4000W/m·K

    样品形态:薄膜、固体、粉体、液体

  • 差示扫描量热仪

    差示扫描量热仪

    型号:DSC 25

    功能:在程序温控下,测试样品的热物理性质随着温度或时间的变化,用以测定材料的固液相线等。温度变化的同时,测试样品与参比的热流和温度的关系,用于测定样品的热焓值、比热容、玻璃化转变温度等。

    技术参数:

    基线平直度:<100 µW(-50~300℃)

    基线重复性:<40 µW(-50~300℃)

    温度范围  :-180℃~725℃

    温度准确度:±0.1℃

    温度精确度:±0.01℃

    焓值精度  :±0.1%

  • 库仑法卡尔费休水分仪

    库仑法卡尔费休水分仪

    型号:C10S

    功能:梅特勒C10S型卡尔费休水分仪特殊的滴定池设计可较大限度地减少环境湿度干扰以实现低背景漂移值,结合便于操作的特点,可以快速、精确地测定出含水量在1 ppm至5%的样品水分含量。并且配备了卡式加热炉,可以实现固体、液体样品的水分含量测定。

    技术参数:

    测试范围:10µg-200mg

    分辨率:0.1µg

    测量精度:0.3% (>1mg H2O/样品)

    在线漂移值:<2µg/min

    电极测量范围:-2000~2000mV

    电极分辨率:0.1mV

    最小进样量:0.1mC

    滴定控制精度:0.1mC

  • 比表面积及介孔孔径分析仪

    比表面积及介孔孔径分析仪

    型号:JW-BK200B

    功能:比表面积及孔径分布,是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一。JW-BK200B高性能物理吸附仪通过静态容量法气体吸法,能准确、可靠解决粉体材料比表面积及孔径分析问题。

    技术参数:

    1.比表面测试范围:0.0001m²/g至未知上限

    标准样品重复性(相对标准偏差):≤ ±1.0%

    2.孔径测试范围:0.35nm-500nm、0.7nm-2nm微孔精确分析

    中值孔径重复性(标准偏差):≤ 0.02nm


  • 激光粒度仪

    激光粒度仪

    型号:LT3600 Plus

    功能:激光粒度仪是通过颗粒的衍射或散射光的空间分布(散射谱)来分析颗粒大小的仪器,已广泛应用于化学、制药、食品、建材等工业领域。

    技术参数:

    测试范围:0.015μm~3600μm

    准确度: Dv50优于±0.6% (NIST可溯源乳胶标样)

    重复性: Dv50优于±0.5% (NIST可溯源乳胶标样)

    测量速度:最高可达20000次/秒


  • 折弯设备试验机

    折弯设备试验机

    型号:Morion自研

    功能:可以对薄膜材料模拟手机弯折过程,测试长期弯折过程对于材料是否会产生断裂和性能影响。

    技术参数:

    弯折角度:0-180℃

    弯折次数:0-999999次

    运行速率:0-90次/min

  • 冷热冲击试验箱

    冷热冲击试验箱

    型号:HD-E703-100K55

    功能:冷热冲击试验机是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业必备的测试设备,以待测物品不动之方式来测试因高低温急速变化而对产品是否造成不良的影响。一般用于电子产品、汽车零件及高科技产品等;需要苛刻的环境条件测试及高信耐性需求的检验。

    技术参数:

    温度范围:-55℃~150℃

    高温冲击范围:+60℃~180℃

    低温冲击范围:-10℃~-55℃

    高温槽温度设定范围:+60℃~180℃

    低温槽温度设定范围:-10℃~-55℃

    冲击复归时间:-40℃~150℃,时间≤5分钟

    温湿度匀差:±2.0℃,±3%RH

    温湿度偏差:±2.0℃,±3%RH

  • 可程式恒温恒湿试验机

    可程式恒温恒湿试验机

    型号:HD800

    功能:模拟各种温湿度环境,适用于检测电子、电器、食品、汽车、橡胶、塑料胶、 金属等产品,满足标准GB/T 2423, GJB 150A1/4内规定的各种恶劣环境下的可靠性机稳定性能等参数,提供预测和改进产品质量及可靠性的依据。

    技术参数:

    温度范围:-40℃~150℃

    湿度范围:20%RH-98%RH

    精度控制:±0.5℃;±2.5%RH

    均匀度:±0.5℃;±3%RH

    升温时间:≥2.5℃/min

    降温时间:平均1℃/min

  • 微机控制万能试验机

    微机控制万能试验机

    型号:WDW-1000

    功能:用于金属,非金属,复合材料的拉伸、压缩、弯曲等项的静力学性能测试分析研究,可求出最大力、抗拉强度、弯曲强度、压缩强度、弹性模量、断裂延伸率、屈服强度等参数。可自动求取ReH、ReL、 Rp0.2、 Fm、Rt0.5 、Rt0.6、Rt0.65、Rt0.7、Rm、E等试验参数,并可根据GB、ISO、DIN、ASTM、J1S等国内国际相关标准进行试验和提供数据。

    技术参数:

    试验力:1KN

    试验量程:700mm

    位移精度:0.025μm

    变形测试精度:±0.5%

    试验速度范围:0.001-500mm/min

    支持500次压缩循环测试以及多次拉伸,弯曲测试

  • 万能材料试验机

    万能材料试验机

    型号:STX-20KN

    功能:主要用于金属、非金属材料的拉伸、压缩、弯曲、剪切、撕裂等力学性能的测试和分析研究,可根据GB、ISO、JIS、ASTM、DIN及用户提供的多种标准进行试验的数据处理。

    技术参数:

    荷重分辨率:1/250000

    测试精度:±0.5%

    测试速度:0.01~500mm/min



  • 粉体电阻率测试仪

    粉体电阻率测试仪

    型号:ST2722

    功能:运用四端子法或四探针法电阻率测试仪与自动化粉末压片机相组合,测试粉末“电阻率-压强”特性曲线。四端子法符合GB/T 24521-2009,YS/T 587.6-2006,GBT 30835-2014,GB/T 1552-1995测试标准。

    技术参数:

    电阻率:1×10-6~k×200.0×103Ω-cm

    分辨率:1×10-6~0.1×103Ω-cm

    试样成分:不得含有对测试台和电极有腐蚀作用的成分

    试样粒度:不限

    压强量程:0-20Mpa可调

  • 绝缘耐压测试仪

    绝缘耐压测试仪

    型号:IV7122

    功能:将一规定交流或直流高压施加在电器带电部分和非带电部分(一般为外壳)之间以检查电器的绝缘材料所能承受耐压能力的试验

    技术参数:

    1.交流耐压

    耐压电压:0-5.00KVAC

    交流电流上限:0.10-12.00mA

    交流电流下限:0.00-12.00mA

    2.直流耐压

    耐压电压:0-6.00KVDC

    直流电流上限:0.10-5.00mA

    直流电流下限:0.00-5.00mA

    3.绝缘电阻

    输出电压:0.1-1.00KVDC

    攀升时间:0.1-999.9s

    维持时间:0,0.2-999.9s

  • 双电测数字式四探针测试仪

    双电测数字式四探针测试仪

    型号:ST2263

    功能: 运用直线或方形四探针双位测-改进形范德堡测量方法测试导体、半导体材料电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。

    技术参数:

    1.测量范围

    电阻率:1×10-4~2×105Ω·cm,分辨率:1×10-5~1×102Ω·cm

    方 阻:5×10-4~1×106Ω/□ ,分辨率:1×10-5~1×102Ω/□

    电 阻:1×10-5~2×105Ω,分辨率:1×10-6~1×102Ω

    2.材料尺寸

    厚度:10mm

  • 直流低电阻测试仪

    直流低电阻测试仪

    型号:JK2511型

    功能:适用于变压器及电感线圈铜阻、继电器接触电阻、开关、接插件接触电阻、导线电阻、元件焊点接触电阻、印制板线条及焊孔电阻、金属探伤等。应用于生产线,可使用HANDLER接口及GPIB接口(选件)输出良品不良品信号,以提高生产线自动化测试能力。

    技术参数:

    显示范围:0.01nQ - 199.99kQ

    测试电流:100nA,10nA,1nA,100μA,10μA

    量程:200nQ,2Q,20Q,200Q,2kQ,20kQ,200kQ

    各量程分辨率:10μQ,100μQ,1mQ,10mQ,100mQ,1Q,10Q

    测量速度:10次/秒(快速),2.5次/秒(慢速)

    量程方式:自动,保持

    触发方式:内部,手动,外部

    功能:上/下限设置,合格/不合格判别,量程锁定,清零,掉电数据保护

  • 正置金相显微镜

    正置金相显微镜

    型号:XZJ-2030B

    功能:用于鉴别和分析各种金属、合金材料、非金属物质的组织结构和表面状况,还可以广泛地应用于观察不透明的物质和透明的物质。

    技术参数:

    放大倍数:50X-1600X

    微动精度:0.002mm

    CCD成像系统


  • 3C数码电芯测试仪

    3C数码电芯测试仪

    型号:CT-4008T-5V12A-S1
    功能:仪器具有多量程、高响应、高精度、高采样等性能特点,结构简单,模块化。测试模式支持:恒流、恒压、恒流恒压、恒功率、恒阻、脉冲,可全面对电池性能进行检测。
    技术参数:
    1.输入有功功率:826W
    2.分辨率 AD:16bit;DA:16bit
    3.输入阻抗:≥1MΩ
    4.电压: 恒压电压范围控制:25mV~5V
    最低放电电压:上下夹具两端可放电至2V,2m线长可至2.5V
    精度:± 0.05% of FS
    稳定度:± 0.05% of FS
    5.电流: 每通道输出范围:5mA-1A;1A-6A;6A~12A;
    精度:± 0.05% of FS;
    恒压截止电流:2mA;12mA;24mA;
    稳定度:± 0.05% of FS;
    6.功率: 单通道最大输出功率:60W稳定度:± 0.1% of FS

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